薄膜测量

该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从 10 nm 到 50μm， 分辨率可达 1 nm，测量范围从紫外 / 可 见到近红外（200-1100 nm）。